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  </head>
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    <div class="moz-text-html" lang="x-western">
      <div class="moz-text-html" lang="x-western"> [Apologies if you
        receive multiple copies of this CFP]<br>
        <br>
        <b>Extended deadline: 15 March 2014 (last extension)</b><br>
        <div class="moz-text-html" lang="x-western"> <b><br>
            Call for Papers: Neurocomputing Special Issue on "Advances
            in Learning with Label Noise</b><b>"</b><br>
          <br>
          <b><u>AIMS AND SCOPE</u></b><br>
          <br>
          Label noise is an important issue in classification. It is
          both expensive and difficult to obtain completely reliable
          labels, yet traditional classifiers expect a perfectly
          labelled training set. In real-world data sets, however, the
          labels available often contain mistakes.  Mislabelling may
          occur for several reasons, including lack of information,
          speedy labelling by non-experts, the subjective nature of
          class memberships, expert errors, and communication problems.
          Furthermore, label noise may take several different forms --
          for instance, labelling errors may occur at random, or may
          depend on particular values of the data features, or they may
          be adversarial. Errors may affect all data classes equally or
          asymmetrically. A large body of literature exists on the
          effects of label noise, which shows that mislabelling may
          detrimentally affect the classification performance, the
          complexity of the learned models, and it may impair
          pre-processing tasks such as feature selection. <br>
          <br>
          Many methods have been proposed to deal with label noise.
          Filter approaches aim at identifying and removing any
          mislabelled instances.  Label noise sensitive algorithms aim
          at dealing with label noise during learning, by modelling the
          process of label corruption as part of modelling the data.
          Some methods have been modified to take label noise into
          account in an embedded fashion.  The current literature on
          learning with label noise is a lively mixture of theoretical
          and experimental studies which clearly demonstrate both the
          complexity and the importance of the problem. Dealing with
          mislabelled instances needs to be flexible enough to
          accommodate label uncertainty, yet constrained enough to guide
          the learning process in its decisions regarding when to trust
          the label and when to trust the classifier.<br>
          <br>
          This special issue aims to stimulate new research in the area
          of learning with label noise by providing a forum for authors
          to report on new advances and findings in this problem area. 
          Topics of interest include, but are not limited to:<br>
          <ul>
            <li>new methods to deal with label noise;</li>
            <li>new applications where label noise must be taken into
              account;</li>
            <li>theoretical results about learning in the presence of
              label noise;</li>
            <li>experimental results which provide insight about
              existing methods;</li>
            <li>dealing with different types of label noise (random,
              non-random, malicious, or adversarial);</li>
            <li>conditions for the consistency of classification in the
              presence of label noise;</li>
            <li> label noise in high dimensional small sample settings;</li>
            <li> the issue of model meta-parameters/order selection in
              the presence of label noise;</li>
            <li>feature selection and dimensionality reduction in the
              presence of label noise;</li>
            <li>label-noise aware classification algorithms in static
              and dynamic scenarios;</li>
            <li>on-line learning with label noise</li>
            <li>learning with side information to counter label noise;</li>
            <li>model assessment in the presence of label noise in test
              data.</li>
          </ul>
          <br>
          <u><b>SUBMISSION OF MANUSCRIPTS</b></u><u><b><br>
            </b></u><br>
          If you intend to contribute to this special issue, please send
          a title and abstract of your contribution to the guest
          editors.<br>
          <br>
          Authors should prepare their manuscript according to the Guide
          for Authors available at <a
            href="http://www.journals.elsevier.com/neurocomputing"
            target="_blank">http://www.journals.elsevier.com/neurocomputing</a>.
          All the papers will be peer-reviewed following the
          Neurocomputing reviewing procedures.  Authors must submit
          their papers electronically by using online manuscript
          submission at <a href="http://ees.elsevier.com/neucom"
            target="_blank">http://ees.elsevier.com/neucom</a>.  To
          ensure that all manuscripts are correctly included into the
          special issue, it is important that authors select "SI:
          Learning with label noise" when they reach the "Article Type"
          step in the submission process.<br>
          <br>
          For technical questions regarding the submission website,
          please contact the support office at Elsevier or the guest
          editors.<br>
          <br>
          <u><b>IMPORTANT DATES</b></u><br>
          <br>
          Extended deadline of paper submission: 15 March 2014 (last
          extension)<br>
          Notification of acceptance: 15 July 2014<br>
          <br>
          <u><b>GUEST EDITORS</b></u><br>
          <br>
          Benoît Frénay (Managing Guest Editor)<br>
          Université catholique de Louvain, Belgium<br>
          E-mail: <a href="mailto:benoit.frenay@uclouvain.be"
            target="_blank">benoit.frenay@uclouvain.be</a><br>
          Website:<a href="http://bfrenay.wordpress.com/">
            http://bfrenay.wordpress.com</a><br>
          Phone: <a href="tel:%2B32%2010%20478133" value="+3210478133"
            target="_blank">+32 10 478133</a><br>
          <br>
          Ata Kaban (Special Issue Guest Editor)<br>
          University of Birmingham, United Kingdom<br>
          E-mail: <a href="mailto:A.Kaban@cs.bham.ac.uk"
            target="_blank">A.Kaban@cs.bham.ac.uk</a><br>
          Website:<a href="http://www.cs.bham.ac.uk/%7Eaxk">
            http://www.cs.bham.ac.uk/~axk</a><br>
          Phone: <a href="tel:%2B44%20121%2041%2042792"
            value="+441214142792" target="_blank">+44 121 41 42792</a><br>
        </div>
      </div>
    </div>
  </body>
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